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光學自動檢查機    首頁 Home > 系列產品

AOI Auto Optic Inspection 光學自動檢查機

功能

由機構硬件定位搭配高分辨率CCD,來回拍照掃描後,透過高速影像比對後,將檢測結果之瑕疵影像依照用户定義格式儲存,並彙整瑕疵信息,提供後端設備與使用者判斷所需之檔案。

内部Stage

機構規格

X/Y 軸線性馬達

Z 軸步進馬達

氣浮式避震台

鋼構底床

花崗岩平台

 

功能說明

瑕疵判定(光阻殘留、破損、粉塵、髒污)

瑕疵MAP示意圖觀看(Defect Map)

▓產品OK/NG判定規格(Judge Rule)

瑕疵類型(Dark/Bright Defect)

瑕疵尺寸定義(S、M、L)

▓產品規格Recipe顯示

影像擷取圖像觀看

 

AOI  圖例

             刮傷                                電路瑕疵                          其他缺陷

華洋精機股份有限公司
地址:台南市永康區正南三路360號
電話:06-2532626
傳真:06-2438417